北京恒奧德儀器儀表有限公司
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HAD3000-4N便攜式彩屏混凝試驗攪拌器的詳細資料：
便攜式彩屏混凝試驗攪拌器 型號：HAD3000-4N
便攜式彩屏混凝試驗攪拌器 HAD3000-4N主要性能
1、7寸超大彩色液晶屏，動態顯示各種參數，數據更清晰
2、微電腦控制、程序可儲存20種，每種自動無級變速10次
3、中英文雙顯系統，國內國外用戶均適用
4、自動測溫，自動計算顯示G值和GT值
5、攪拌軸既可以同步運行，也可以獨立運行
6、沉淀結束時有語音信號提示
7、交直流雙電源，適用于各種場合
8、配送專用有機玻璃試驗杯和試管
9、銀白色烤漆機箱制造
HAD3000-4N主要參數
①可設程序：20種；每種自動無級變速10次
②速度梯度G值：10 ~ 1000秒 -1
③轉速范圍：10 ~ 1000轉/分 ± 0.01%
④時間范圍：0 ~ 99 分59秒 x 10 ± 0.01秒
⑤測溫范圍：0 ~ 50℃ ± 1℃
⑥電 壓： ~ 220V ± 5%
2.實驗室輥壓機 型號：HAD-J150B
一、HAD-J150B概述：
HAD-J150B該型號輥壓機專用于小型鋰電極片輥壓工序，使用單項220V電源，適合高校和企業試驗線使用。加熱型對輥軋機專為材料研究人員設計，適合于實驗室內電池材料，少量金銀等貴金屬材料、銅鋁等有色材料的手工軋制，軋制厚度可調，操作簡單。尤其適合于清潔能源材料鋰電池極板的減薄和增大密度
二、HAD-J150B工作原理：
本設備由減速電機驅動高硬度壓輥，機械調整壓輥間隙，使極片受壓成型,增加極片質密度。
三、HAD-J150B技術參數：
1、功率：220V、1.5KW
2、兩輥的溫度可以獨立控制，任意調節。
3、 壓輥尺寸：Φ150mm×200mm；
4、 壓輥面硬度：HRC62；
5、 軋輥圓柱度：≤±２μm；
6、 有效間隙：0-5mm可調；
7、 工作速度：無級變速，線速度0-6.0米/分可調；
8、輥面光潔度: ；
9、工作寬度：最大200mm；
10、輥面淬火深度：5mm；
11、最大壓力：15T；
12、重量約：350KG
13、外形尺寸約：1000*500*1200MM
3.脈沖微束等離子焊機，等離子焊機 型號：HADM-50
HADM-50精密微束等離子焊機采用 MOSFET 技術，為高頻逆變式直流等離子焊
機。配合水冷式等離子弧焊槍，適應材料厚度 0.15--1.8mm 不銹鋼薄件的等離子
弧焊接和等離子弧堆焊、等離子弧噴涂。具有氬弧焊無法替代的微小電流電弧指
向性。適用于低碳鋼、高低合金鋼、不銹鋼、鈦合金、銅、鎳及其合金的焊接，
能滿足精密焊接的需要。
焊機特征：
※本焊機采用 MOSFET 逆變技術，優質元器件制造而成。
※采用數顯電流，帶有可以調節的維弧電流、初弧/收弧電流、脈沖電流、 電流緩升時間、電流衰減時間、滯氣保持時間、脈沖頻率等?？扇嬖O置各種焊 接工藝參數
※具有高效、節能、可靠、焊接性能優良等特點。
※具有提前送氣、離子氣保護氣預調功能，可自動高頻引弧、并具有的 電網補償能力。
※高負載能力、高防護等級、適應惡劣環境的能力。
4.介電常數和介質損耗測試儀 型號：HAD-Y2855
HAD-Y2855 介電常數和介質損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
HAD-Y2855介電常數和介質損耗測試儀工作頻率范圍是100kHz～100MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。
特點：
本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005。
能對固體絕緣材料在100kHz～100MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態，調諧電容值等。
Q值量程自動/手動量程控制。
DPLL合成發生1kHz～70MHz（HAD-Y2852D）, 50kHz～160MHz（HAD-Y2853D）測試信號。獨立信號源輸出口，
所以本機又是一臺合成信號源。
測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
2 主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率100kHz～100MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%
Q表
型號 | HAD-Y2851 | HAD-Y2852D | HAD-Y2853D |
工作頻率范圍 | 50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器 | 1kHz～70MHz 四位數顯，數字合成 精度：±50ppm | 50kHz～160MHz 四位數顯，數字合成 精度：±50ppm |
Q值測量范圍 | 1～1000 指針，±1Q分辨率 | 1～1000 四位數顯，±0.1Q分辨率 | 1～1000 四位數顯，±0.1Q分辨率 |
可調電容范圍 | 40～500 pF ΔC±3pF | 40～500 pF ΔC±3pF | 13～230 pF |
電容測量誤差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表殘余電感值 | 約20nH | 約20nH | 約8nH |
5.介電常數測試儀 型號：HAD-Y2858
HAD-Y2858系列 介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
HAD-Y2858系列介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。
1 特點：
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1～105
2 主要技術指標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數字電橋
型號 | HAD-Y2817 | HAD-Y2818A |
工作頻率范圍 | 100Hz～100kHz（6個頻點） 精度：±0.05% | 20Hz～1MHz 數字合成，精度：±0.02% |
電容測量范圍 | 0.0001pF～99999μF 四位數顯 | 0.00001pF～9.99999F 六位數顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001～9.9999 四位數顯 | 0.00001～9.99999 六位數顯 |
2.3 HAD-Y916B 介電常數測試裝置（含保護電極）
2.3.1 平板電容器極片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購設備)可以完成最高200℃控溫精度l℃加熱測試
HAD-Y918 精密介電常數測試裝置提供四種不同直徑測試電極，能對直徑φ10～56mm，
厚度<10mm的試樣精確測量。它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和
非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 最高耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長度設置：1m
2.4.4 最高使用頻率：30MHz
2.5 高頻介質樣品（選購件）：
在現行高頻介質材料檢定系統中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀
提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，
氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。
用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
以上參數資料與圖片相對應
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